Fogorvosi szemle, 2006 (99. évfolyam, 1-6. szám)
2006-04-01 / 2. szám
56 FOGORVOSI SZEMLE ■ 99. évf. 2. sz. 2006. lel kezelt felszínen már szabad szemmel is látható volt az elszíneződés, amelyet egyszerű törléssel nem lehetett eltávolítani (4. ábra). Atomi erő mikroszkópos vizsgálattal mélyebb bemaródásokat és apró, félgömb alakú képleteket találtunk (5. ábra). Az érdesség meghatározásakor azt tapasztaltuk, hogy az átlagos Ra érték 148,3 ± 20 nm, vagyis többszöröse lett a kontroll-minta esetében mért értéknek. Ez az érték arra enged következtetni, hogy a kontroll és a fluoridos fogkrémmel kezelt mintához képest, a fluoridos gélezés után a felület érdessége szignifikánsan megnőtt. A keresztmetszeti képanalízis (6. ábra) is ezt bizonyítja, hiszen a vertikális mélység a vizsgált területen meghaladta a 600 nm-t. Röntgen fotoelektron spektroszkópiás vizsgálat Az XPS módszerrel először a kontroll mintának tekintett tiszta felületű titánkorongot vizsgálták meg. Az XPS spektrumból látható (Z ábra), hogy az előzetes kémiai tisztítási eljárás ellenére szén detektálható az implantátum felszínén (C 1s spektrum vonal), amely bizonyítja a B pm 4. ábra. A 12500 ppm fluorid tartalmú géllel kezelt titánkorong makroszkopikus felvétele 3. ábra. Az 1250 ppm fluorid koncentrációjú fogkrém hatása utáni állapot a titán próbatest felszínén. Az AFM felvétel síkban (zskála = 100 nm) és B) három dimenzióban (x = 2 pm/div, z = 800 nm/div). 10 x 10 pm-es kép, kontakt üzemmód, „deflection” kép