KÉMIAI KÖZLEMÉNYEK - A MTA KÉMIAI TUDOMÁNYOK OSZTÁLYÁNAK FOLYÓIRATA 66. KÖTET (1986)

66. kötet / 1-2. sz. - Az Anyag- és Molekulaszerkezeti Munkabizottság IV. Anyagszerkezet-kutatási Konferenciája. Elméleti és nagyműszer módszerek alkalmazása a kémiai szerkezetkutatásban. Visegrád, 1985. március 27–29. - VARSÁNYI GY., BERTÓTI ., MINK GY., RÉTI F., RÉVÉSZ M.: SiO2-dal adalékolt g-Al2O3katalitikus tulajdonságai

Kémiai Közlemények 66. kötet 1986 p. 1—14 AZ ANYAG- ÉS MOLEKULASZERKEZETI MUNKABIZOTTSÁG IV. ANYAGSZERKEZETKUTATÁSI KONFERENCIÁJA. ELMÉLETI ÉS NAGYMŰSZERES MÓDSZEREK ALKALMAZÁSA A KÉMIAI SZERKEZETKUTATÁSBAN S102-DAL ADALÉKOLT ?­Al2°3 KATALITIKUS TULAJDONSÁGAI VARSÁNYI GYÖRGY, BERTÓTI IMRE, MINK GYÖRGY, RÉTI FERENC, RÉVÉSZ MÁRTA (MTA Szervetlen Kémiai Kutató Laboratórium, Budapest) Az MTA Szervetlen Kémiai Kutató Laboratóriumában évek óta kísérletezünk alumínium- és néhány egyéb oxid illósításával. A fémek kloridalakban válnak illóvá. A klórozáshoz Cl2~t, foszgént, CCl^-et, SiCl^-et és TiCl^-et hasz­náltunk. Utóbbi két klórozó ágens reakciójának eredményeként Si vagy Ti é­pülhet be a klórozandó A^O^ kristályrácsába vagy annak felületére [1, 21. ^•­Al^O-j-at klórozva SiCl^-gyel megállapítottuk, hogy az Si beépülésének op­timális hőmérséklete van 750 K környékén, míg a Ti-beépülés konverziója a hőmérséklet emelésével monoton nő [3]. Sor került Si-vel és Ti-vel fenti módon adalékolt Az Oi katalitikus ha­tásának vizsgálatára is a­ hexán hidrokrakkolási reakciójában mint modellre­akcióban. Megállapítottuk, hogy 2,3% (^)-ig a Ti-tartalommal a ^-A^Oj kata­litikus aktivitása monoton nő, növekvő Si-tartalommal azonban maximumot ész­leltünk a katalitikus aktivitásban 1-2 atomszázalék Si-t tartalmazó felületi réteg esetén [4]. A következőkben az Si hatását tárgyaljuk részletesebben. A 9--A1201 Si-tartalmú felületi rétegének szerkezete Meghatároztuk tiszta, valamint kevés Si-t tartalmazó t-Mfl^ fajlagos felületét adszorpciós mérésekkel. A 160 m^/g fajlagos felületet reprodukálni lehet olyan kocka alakú részecskékkel, melyeknek élhossza 10 nm (1. ábra). A szilíciumtartalmat két független módszerrel határoztuk meg, atomabszorpciós spektroszkópiával és röntgen-fotoelektronspektroszkópiával (XPS). Előbbi a valódi összetételt adja meg, utóbbi a felületi fázisról ad információt, de nem pontosan a felületi fázis összetételéről, mivel a mérési adatok a távozó elektronoknak még a felületi fázisban bekövetkező abszorpciójától, ill. ru­galmatlan szórásától is függenek.

Next